光学特性参数测量仪器，如光谱仪、辐射计/光度计、激光功率计、激光能量计、脉冲宽度探测器、光束质量分析仪/光束轮廓仪、高速偏振光相机等

博源光电-紧凑型光谱仪及光功率计

博源光电提供波长从180nm到1700nm的紧凑型光谱仪，以及光电二极管/热电堆型光功率计。

EOC-相干-脉冲宽度测量用光电探测器

EOC的光电探测器在世界各地的实验室中用于脉冲宽度测量和脉冲轮廓应用，如监测脉冲激光器、锁模激光器和外部调制连续激光器的输出

Photonic Lattice -偏振光学元件和偏振高速相机

我们不限于提供偏振光学元件，我们也提供基于偏振元件的独特的产品，如我们专有的双折射测量系统、偏振高速相机、超高速和高灵敏度热成像相机以及二氧化碳成像系统。

Dataray- 光斑轮廓仪

DataRay是符合ISO标准的激光束轮廓仪的领先制造商

International Light-光度计、辐射计、光谱光度计、光谱辐照度计

我们提供一系列光测量产品和设备，包括光度计、辐射计、光谱光度计和光谱辐射计，适用于紫外线、可见光和红外测量。

HAAS-高功率激光束分析仪

HAAS激光束分析仪系统是模块化设计。该系统包括软件、相机、光束减少光学器件、衰减模块和滤波器，能够实现从低功率到高功率连续波和脉冲激光器的“实时”激光束诊断。

博源光电成立于2012年，位于中国杭州。

是一家专业生产科学教育仪器和光子学仪器的公司。我们生产各种物理、光电专业的实验教学培训套件, 以及以光谱、光强度分析为基础的测量仪器及解决方案，为客户带来高质量、实惠和可靠的产品。

博源光电的光分析产品，包含光谱仪系列和光功率系列：

光谱仪产品系列：

描述	参考图片	产品系列	波长（nm）	光学分辨率 FWHM（nm）	备注说明
VIS-NIR 小型光谱仪		BIM-6001A	315~1100	1~0.35
		BIM-6002A	180~1100
VIS-NIR 高分辨率光谱仪		BIM-6601A	315~1100	0.35~0.08
		BIM-6602A	180~1100	0.35~0.1
		BIM-6606	200~1100	0.35~0.06
UV-NIR 高灵敏度光谱仪		BIM-6703	200~1100	1~0.35	在 500-900nm区间具备高灵敏度，适合拉曼应用
		BIM-6704			在 200-500nm区间具备高灵敏度，适合UV波段
UV-NIR 高灵敏度高分辨率光谱仪		BIM-6603	200~1100	1~0.1	在 500-900nm区间具备高灵敏度，适合拉曼应用
NIR 光谱仪		BIM-6805	950-1700	~10nm
		BIM-6809	920-1700	~5nm

光功率计产品系列：

Photonic Lattice于2002年在日本仙台创立。其核心技术是光子晶体技术，利用溅射技术将不同轴向的微偏振器阵列自由图案化并堆叠在单个晶片上。这项技术被用作光通信（偏振复用）、半导体（使用DUV光进行检查）、精密处理（光束整形）和其他各领域设备的核心部件。

如今，通过特殊光学和计算算法等应用技术的研发，Photonic Lattice已经实现了专有的双折射测量系统、偏振高速相机、超高速高灵敏度热成像相机、二氧化碳成像系统等独特的产品，使我们能够对以前很难呈现的现象进行可视化和测量。

产品：

我们使用我们独特的光学技术提供光学元件、光学模块、检测设备、定制开发和合同测试服务。

• ● 光子晶体偏振光学元件
• ● 2D双折射测量系统
• ● 在线/离线映射型双折射测量系统
• ● 高速红外摄像机/红外测量设备
• ● 高速偏振相机
• ● 偏振成像相机
• ● 厚度和折射率测量(椭圆测量法)

2D双折射测量系统

PA/WPA系列系统提供透明材料的高速双折射测量，例如用于残余应力评估的透明部件，或用于相位均匀性评估的透明膜。从微观到宏观（～50cm），视野适用于任何测量情况，可按材料尺寸选配不同的产品。

• ● PA系列以500万像素的高分辨率高速测量双折射和相位差，测量范围为0至130nm的低相位差。适用于玻璃器皿和其他低相位差目标的测量。
• ● WPA系列通过测量三波长的双折射/相位差分布，将相位差的测量范围从0扩展到3500nm。适用于测量大型透明树脂产品。

PA/WPA-NIR 系列

该系统在850nm波长下工作，为在可见光波长下不透明的工件的工艺和质量控制提供了强大的工具，如激光雷达和人脸识别系统中使用的特殊树脂和硫族(元素)化物。

在线/离线映射型双折射测量系统

使用KAMAKIRI对整个薄膜表面进行检查。因此，即使突然发生光学不规则，也可以实时生成警报，以防止任何缺陷区域流出。

从“可视化”到“自动检测”防止不良产品流出和快速检测缺陷

• ● 随着显示器在分辨率和对比度方面变得更高，并且随着制造商提高图像质量，正在追求薄膜平面内的高度相移和主轴取向均匀性。
• ● 此外，从环境角度来看，指定要处理的生产批次和薄膜修剪区域变得很重要。
• ● 通过使用KAMAKIRI，它结合了一个独特的偏振高速相机和扫描系统，现在可以在极短的时间内，在生产线和研究实验室中，高精度地检查和记录薄膜平面中的双折射。

大量安装成果

• ● 自2014年底推出以来，日本、韩国和中国的光学薄膜制造商和玻璃/透镜成型制造商已经安装了50多个KAMAKIRI系列产品。
• ● 特别是对于光学薄膜制造商来说，有许多不同类型的生产线，每条生产线都有不同的要求。
• ● 我们制造并安装了宽度为200mm的小型系统和宽度超过5m的大型系统。
• ● 通过确认客户生产线的状态，我们可以提出符合的系统配置。

高速红外摄像机/红外测量设备

我们提出了一种基于世界上高级别的高速高灵敏度红外相机技术的红外研发测量系统。它适用于各种新的应用，如高速温度测量、CO2气体可视化或焊接温度分析。

瞬时温度变化的可视化

• ● 使用我们的冷却红外高速相机，通过将图像传感器冷却至-190°C，将热噪声降低到最大限度，实现了过去难以实现的高精度、高速热成像测量。
• ● 这使得可以精确地测量高速现象，例如拉伸试验中断裂瞬间的温度上升、激光加工过程中工件的温度上升或高速移动物体的温度测量。此外，通过以高精度检测极小的温度变化，可以评估例如半导体芯片在操作期间的温度上升或在温度上升期间液体中的温度不规则性。

CO2气体可视化

• ● 通过可视化不可见的气体，如CO2、甲烷、乙烷、乙醇、甲苯等，可以检测和量化管道、呼气流的泄漏，或者使用CO2表征裸气流；气体作为一种廉价的示踪剂。
• ● 当可视化CO2时，一个特别关注的问题是它通常很难与水蒸气区分开来。
• ● 另一方面，CO2相机可以通过对特定波长的红外吸收进行光谱过滤来区分气体。
• ● 在4.3微米波段，二氧化碳比水蒸气吸收能力强得多，因此可以克服这一问题。

高速偏振相机

CRYSTA是世界上速度最快的高速偏振相机，可以实时显示透明材料的内部应力和取向结构。它在生物技术、国防或航空航天技术等各个研发领域都有很大帮助。

• ● 材料加工过程中内部应力分布的可视化和加工条件的分析
• ● 冲击试验/断裂中裂纹周围应力传播的评估
• ● 液晶/晶体材料晶轴和取向状态的动态观测
• ● 粘弹性和软物质产生的流动应力分布可视化

偏振态可以测量和可视化各种物理量和物理性质。

• ● 此外，“偏振”和“高速成像”技术的结合将实现以前难以想象的新图像分析，例如从图像中检查透明材料加工过程中施加在工具上的载荷，可视化冲击试验和流动现象中的应力传播和弛豫过程，以及以非接触方式定量测量取向膜的空间性能均匀性。
• ● 此外，“偏振”和“高速成像”技术的结合将实现以前难以想象的新图像分析，例如从图像中检查透明材料加工过程中施加在工具上的载荷，可视化冲击试验和流动现象中的应力传播和弛豫过程，以及以非接触方式定量测量取向膜的空间性能均匀性。

偏振成像相机

PI/WPI相机能够作为正常图像一样实时获得偏振信息，并具有高分辨率。它们被用于许多领域，包括使用偏振特征识别暗物体、激光束的实时偏振监测等。

除了记录线偏振度（DOLP）和主轴方位角的PI功能外，WPI还提供了斯托克斯参数和偏振度（DOP）的全面记录，这在部分偏振情况下是必要的。

通过偏振效应观察表面凸起

偏振允许检测使用普通相机难以看到的小边缘和表面不规则性。偏振成像在观察黑暗物体时尤其闪耀。

普通图像		偏振图像 在偏振图像上可以清楚地看到表面凸起。

新材料评估（比如碳纤维…）

使用反射光，偏振可以用于实时观察和量化CFRP（碳纤维增强聚合物）样品中纤维的取向。

新材料评估

WPI全偏振成像

市场上的偏振相机，包括PI，只提供有限的偏振信息，而不是整个画面。

与这种相机相比，WPI系统可以访问完整的斯托克斯参数，允许在右旋、左旋、椭圆和圆偏振态之间进行辨别。此外，WPI系统区分偏振光和非偏振光，并且不会将椭圆偏振与非偏振光混合。WPI系统是全偏振测量的最佳选择。

蓝色部分为右旋圆偏振（RCP），红色部分为左旋圆偏振（LCP）

厚度和折射率测量(椭圆测量法)

这些系统测量超薄膜的厚度和折射率。它们实现了对完整二维分布的高速测量，可缩放到微尺度区域。它们主要用于半导体晶片和显示面板的评估。

现在可以以高分辨率对薄膜厚度和折射率进行高速、无损、高精度的测量。

我们支持质量管理和过程控制，提供丰富的数据量和可适应您需求的软件功能。

高速

全面积晶圆（高达12英寸）的高速评估。

使用丰富的数据量，您可以为故障排除过程提供反馈，并将质量控制提升到一个新的水平。

• ● 厚度测量从“点”升级为全面的“表面”评估
• ● 全表面评估为过程评估提供了很好的见解

高分辨率【ME-210（-T）】

ME-210（-T）除了具有高达12英寸的晶片的大表面测量能力外，还提供了高分辨率模式，可以放大到几微米小的区域。

测量区域尺寸：最大12 inches（标准：8 inches）

光斑大小：

•         标准模式：0.55mm
•         中间模式：55μm
•         高分辨率模式：5.5μm

可提供透明基板的薄膜测量

使用ME-210-T，我们可以对通常难以使用标准椭圆偏振技术进行评估的物体进行评估，例如OLED的有机薄膜等。

简洁紧凑【SE-101】

使用ME-210-T，我们可以对通常难以使用标准椭圆偏振技术进行评估的物体进行评估，例如OLED的有机薄膜等。

DataRay成立于1988年，美国加利福尼亚州。

DataRay是符合ISO标准的激光光束轮廓仪的制造商。我们提供各种激光束轮廓解决方案，为光子学行业带来高质量、经济实惠和可靠的产品。我们的解决方案包括激光光束轮廓相机、扫描狭缝光束轮廓仪、M²测量系统和专用光束轮廓仪系统。我们为各种应用和波长提供解决方案。我们的光束轮廓系统在美国设计和制造，并提供3年保修。

DataRay率先推出：

• ● 适用于Windows的光束分析软件
• ● 兼容Windows 95的CCD光束轮廓相机
• ● CCD电子快门的软件控制
• ● 具有Micron功能的线性扫描双模狭缝/刀刃光束轮廓仪，完全符合ISO 11146光束轮廓仪标准
• ● 用于聚焦光束、准直和M²测量的紧凑型多平面扫描头
• ● 14位ADC数字百万像素CCD光束轮廓相机
• ● USB 2.0端口供电的光束轮廓相机
• ● Windows 7支持

DATARAY的优势：

广泛的应用 产品特点： ● 最佳分辨率0.1µm； ● 最小直径0.5µm； ● 最大光斑尺寸25mm； ● 超高速USB 3.0

宽带宽 DataRay的产品组合涵盖从DUV到FIR的波长

用户无隐藏成本 所有DataRay系统均提供3年保修；在此期间内的任何必要维修都是免费的，包括零件和人工（不包括客户造成的损坏）

符合ISO 11146 的光束轮廓仪 我们使用的XY平面扫描狭缝运动严格符合标准的要求，即在垂直于传播轴的平面上进行狭缝或刀刃扫描

免费、友好的软件 我们为您的产品提供多功能软件和免费下载的更新

全球化的本地支持 你总能在附近找到当地的专业经销商。在中国，请联系科艺仪器各办事处。

DataRay的产品系列：

1. 光束轮廓相机

DataRay生产三个系列的光束轮廓相机：WinCamD、BladeCam和TaperCamD相机。这些基于CMOS和VO微测辐射热计的相机覆盖了从190 nm到16μm的不同波长。

2. 扫描狭缝光束剖面仪（Si、Ge和InGaAs探测器）

DataRay生产两种类型的扫描狭缝光束轮廓仪：获得专利的BeamMap系列，提供实时M²、发散角、聚焦和对准管理，以及beam'R系列，提供价格合理、紧凑和精确的光束轮廓。我们所有的扫描狭缝光束轮廓仪都配有Si、Ge和InGaAs探测器，覆盖波长从190 nm到2500 nm。

3. 专用光束剖面仪系统（受客户启发）

除了光束轮廓相机和扫描狭缝光束轮廓仪，DataRay还提供专门的光束轮廓仪系统。这些系统为复杂的应用程序提供了解决方案。大光束轮廓系统适用于高达200mm图像区域的光束，而线激光轮廓系统提供了高达200mm长度的线激光的直接测量。

4. 附件

DataRay提供各种光束轮廓仪配件，涵盖光束衰减、光学、平移台、紫外线和红外线转换器等。

Haas Laser Technologies（Haaslti）是定制激光束传输组件的创新者。由Gilbert Haas于1992年创立，公司的使命是为创新、可靠性和质量制定行业标准。Haaslti在新泽西州法兰德斯拥有35000多平方英尺的工厂，在全球范围内提供各种激光束传送组件。我们的资源包括经验丰富的工程师、先进的制造业和先进的机器车间。

远东和欧洲的经销商已经证明了Hass在全球范围内提供和支持其产品的承诺。毫不奇怪，Hass已经成为激光束传送系统领域公认的世界领导者之一。

Haas目前已有数千种产品在世界各地的克莱斯勒、通用汽车、福特、通用电气、法国航空和惠普等公司安装，并以每周7天、每天24小时连续运行。

主要产品包括：

● 激光束诊断 在每一种激光应用中，激光束轮廓都为最有效地使用激光提供了有价值的信息。通过监测激光束的空间轮廓、圆度、质心、散光和M2值，您可以对激光和整个光束传输光学系统的任何问题发出早期警示。这些与提高质量、工艺可靠性和减少废料有关。 HAAS的激光束分析仪系统是模块化设计。该系统包括软件、相机、光束衰减光学系统、衰减模块和滤波器，可实现从低功率到高功率CW和脉冲激光器的“实时”激光束诊断。该设计提供近场和远场瞬时激光束测量、分析和监控，“无移动部件”。 BA-CAM和BWA-CAM软件是根据ISO 11146和ISO 13694国际标准设计的。基于全图像的二阶矩技术、刀口和方程拟合（高斯、超高斯和超圆环）技术用于确定快速可靠的标准光束参数。 计算结果可以以表格形式查看，也可以记录以查看随时间的变化。可视化窗口包括X轴和Y轴图、激光束的3D视图、直方图和数据库报告。

BA-CAM 光束分析仪（BA-CAM）提供对激光空间分布、激光功率、光束直径、光束椭圆度、光束中心和光束质心的“实时”远场观察、测量、分析和监控。BA-CAM还可以监测激光束的退化、稳定性、功率、对准和调整。

BWA-CAM 束腰分析仪（BWA-CAM）提供“实时”近场M2测量且无需移动部件。（BWA-CAM）提供对激光束和所有有源光学元件的即时分析和监测。

BA-CAM + BWA-CAM 双系统结合了光束分析仪（BA-CAM）和束腰分析仪（BWA-CAM），可提供激光束的“实时”近场和远场观察、测量和分析。

BWA-MON BWA-MON是为大多数应用和激光波长的光束分析仪（BA-CAM）和束腰分析仪（BWA-CAM）配置的模块化聚焦头设计。该设计不包含“移动部件”，可对激光束及其光学元件进行即时测量和分析。

关于International Light

五十多年来，International Light一直在开发满足广泛需求并解决各种挑战的产品和解决方案。ILT将照明和光测量专业知识相结合，为客户提供出色的产品和服务。

International Light Technologies( ILT) 是在Gilway与IL合并后成立的。Gilway Technical Lamp和International Light在为客户提供模范服务、准时交货和技术专业知识方面享有悠久而自豪的声誉。Gilway成立于1969年，为客户提供全光谱光源的现成和定制解决方案。自1965年以来，International Light一直通过设计和制造各种光测量仪器，包括市场上准确的照度计，来解决光测量的固有困难。

2022年2月，ILT被Ocean Insight收购。ILT的办公室、研发、经过认证的先进的测试和校准实验室、仓库及其大部分制造都位于马萨诸塞州皮博迪，距离波士顿以北仅15英里。

为什么选择International Light

为什么您要与ILT合作来面对您最近的挑战？我们所做的就是创新和解决问题。我们拥有半个多世纪的经验，与各种类型和规模的公司以及广泛的行业合作，提供解决棘手障碍的产品和解决方案。ILT在电气、光学、机械、质量和制造工程领域雇佣了一支技能高超的专家团队。我们的员工将与您合作，确保您获得适合您的解决方案，无论是现成的还是量身定制的。在当今动荡的环境中，大公司都在努力跟上，许多进入者来来往往，ILT继续提供解决问题、按照高质量标准设计和制造、能够快速且经济高效地推向市场的产品和解决方案。

我们提供的产品

我们提供一系列光测量产品和设备，包括光度计、辐射计、光谱光度计和光谱辐射计，适用于紫外线、可见光和红外测量。我们还提供配套配件，包括探测器、滤波器、输入光学器件、积分球和校准。我们设计我们的产品以承受从水下应用到直接暴露在高水平紫外线下，再到持续使用所需的许多苛刻应用。

UVGI抗微生物/消毒紫外线测量仪：

用于测量低\中压汞光源、UV-C LED和准分子光源-240-310 nm

ILT960便携式紧凑型光谱仪

我们对客户的承诺

在ILT，我们致力于为客户提供高质量的产品、及时礼貌的客户服务和技术支持。我们意识到，我们制造的大部分产品最终都是为客户提供解决方案的一部分。当您与ILT合作时，您可以相信我们会支持我们的产品，并解决任何问题。

我们对质量的承诺

ILT致力于为客户提供高质量的产品和服务。我们的员工使用优良的工具来确保我们的所有产品的设计和制造都符合我们对耐用性、可靠性、功效和成本效益的严格要求。

为了确保这一承诺得到理解、实施和维护，我们的所有员工都熟悉我们的政策，并通过培训和访问我们的质量手册了解他们在质量体系中的要求。我们是一家通过ISO9001:2015质量管理认证的组织，我们的所有产品都有保修支持。ILT还通过了ISO13485:2016认证。

ILT是ISO/IEC 17025:2017认证实验室。该认证使我们能够校准ILT品牌和非ILT品牌的表和分光辐射计。请访问我们的校准页面，查看我们的所有校准服务。

EOT - 相干EOC

相干EOC是一家光子学公司，位于美国密歇根州，专门为需要创新可靠解决方案的OEM客户设计、开发和制造关键的激光组件和子系统。

主要产品包含：

• ● 高功率和低功率自由空间隔离器
• ● 光纤耦合隔离器
• ● 光纤端接器/准直器
• ● 光电探测器系列

从工业制造到国家实验室和太空准备系统，EOC利用其光纤和大块光学设计经验的独特组合，成为各行业的重要技术合作伙伴。

EOC在激光器领域的解决方案

EOC与光电探测器

• ● EOC自1987年即开始制造光电探测器
• ● EOC的光电探测器在世界各地的实验室中用于脉冲宽度测量和脉冲轮廓应用，如监测脉冲激光器、锁模激光器和外部调制连续激光器的输出
• ● EOC的所有光电探测器都是为易于使用而设计的，交付后即可用于实验室

光电探测器基本知识

• ● 光电二极管通过光电效应将光子转换为电子。EOC的光电探测器由光电二极管、相关电路、电源和外壳组成。
• ● 光电二极管中有意义的参数是光电二极管材料、有效区域、响应度、上升时间、下降时间、带宽和噪声等效功率（NEP）。
• ● 要使用的激光器的波长将确定所需的光电二极管材料。硅探测器（ET-2xxx和ET-4000）用于190 nm到1100 nm，InGaAs探测器（ET-3xxx）用于900 nm到1700 nm，GaAs检测器（ET-4000）用于400 nm到900 nm，2um（ET-5000）用于1475-2100nm。
• ● 有效区域是发生光子/电子转换的地方；它的形状通常是圆形的。理想情况下，激光束直径应略小于有效区域直径，以确保最大探测器输出。
• ● 响应度，单位为安培/瓦（A/W），是光电二极管在给定输入功率下的电流输出，并由二极管结构确定。响应度随波长和二极管材料而变化。
• ● 脉冲的上升和下降时间受光电二极管的结电容的影响。较大的结电容将减慢探测器的响应时间。如果从ET-2030中去掉偏置电压，则可以看到这种效果：脉冲的下降沿将从约10 ns延伸到50 ns。
• ● 带宽和上升时间可以通过以下等式近似相关：带宽≈0.35/上升时间
• ● NEP是响应度和暗电流的函数，是输出信噪比为1所需的最小光功率。

光电探测器的使用

EOC探测器的产品范围：